產(chǎn)品中心
當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 實驗室檢測及分析儀器 > 橢偏儀
相關文章ARTICLES
產(chǎn)品簡介:SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設計,使用簡便,可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。高性價比光學橢偏測量解決方案,緊湊集成化設計,用戶操作體驗,一鍵快速測量分析,人機交互設計,使用便捷,豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫,保證強大數(shù)據(jù)分析能力,廣泛應用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數(shù)等快速表征分析。
產(chǎn)品簡介:SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀??赏ㄟ^橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量,快速實現(xiàn)光學參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度,微光斑,可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置,多功能模塊定制化設計。 高精度橢偏測量解決方案;超高精度、快速無損測量;支持多角度、微光斑、可視化調(diào)平系統(tǒng)功能模塊靈活定制;豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫,保證強大數(shù)據(jù)分析能力
ME-L是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了科研團隊在橢偏技術多年的投入,其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術,包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等??蓱糜诎雽w薄膜結(jié)構(gòu),半導體周期性納米結(jié)構(gòu),新材料,新物理現(xiàn)象研究,平板顯示,光伏太陽能,功能性涂料,生物和化學工程,塊狀材料分析以及各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表